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Revista Ingeniantes 2018 Año 5 No.2 Vol. 2

Relación del espesor de una pelí-
cula P3HT:PCBM con su resistencia
característica en estructura fotovol-
taica

                                                                                              Colaboración
                                                                                              Mario Espinosa Tlaxcaltecatl; Jacob Javier Vásquez San-
                                                                                              juan, Universidad Politécnica de Puebla; Svetlana Mansu-
                                                                                              rova, Instituto Nacional de Astrofísica Óptica y Electrónica;
                                                                                              Irma Lucio Hernandez, Universidad Politécnica de Puebla
                                                                                              	

RESUMEN: El presente trabajo re-      ABSTRACT: The present work reports the estimation of the
porta la estimación de la resisten-   typical resistance denominated Series Resistance (Rs), in
cia típica denominada Resistencia     a photovoltaic structure (ITO / P3HT: PCBM / Al) and the
en Serie (Rs), en una estructura fo-  relation that is associated with the thickness of the active
tovoltaica ( ITO / P3HT:PCBM / Al     organic film, composed of a 1: 1 mixture of poly (3-hexyl
) y la relación que se le asocia con  thiophene) P3HT and derivative of C60 (PCBM). The Rs of
el espesor de la película orgánica    the structure is obtained by adjusting the electrical parame-
activa, compuesta por una mez-        ters of the theoretical model of the solar cell to the behavior
cla 1:1 de poly(3-hexyl thiophene)    of the experimental V-I curve with illumination. The estima-
P3HT y derivado de C60 (PCBM).        ted values of Rs are associated with a thickness growth of
La Rs de la estructura es obtenida    the active films of 50, 100 and 150 nm. This relationship es-
ajustando los parámetros eléctri-     tablishes an alternative procedure for estimating a physical
cos del modelo teórico de la cel-     parameter of the cell through an electrical parameter.
da solar al comportamiento de la      KEYWORDS: Theoretical adjustment, film thickness, pho-
curva V-I experimental con ilu-       tovoltaic structure, electrical parameters, film P3HT:PCBM
minación. Los valores estimados       and series resistance.
de Rs son asociados a un creci-       INTRODUCCIÓN
miento del espesor de las pelícu-     Las celdas solares convierten la luz en energía eléctrica y sus
las activas de 50, 100 y 150 nm.      parámetros de desempeño establecen el mecanismo para eva-
Esta relación establece un proce-     luarlas. Pero para determinar las causas que producen desem-
dimiento alternativo para la esti-    peños deficientes como es el caso de celdas solares orgánicas,
mación de un parámetro físico de      cuya tecnología de fabricación promete beneficios económicos,
la celda a través de un parámetro     es necesario determinar los parámetros eléctricos que la go-
eléctrico.                            biernan. En este sentido la resistencia de la película activa de la
PALABRAS CLAVE: Ajuste teó-           celda solar juega un papel de extrema importancia, al definir el
rico, espesor de película, es-        comportamiento rectificador del dispositivo. Y aun cuando está
tructura fotovoltaica, parámetros     definida esta resistencia por diversos factores físicos de la es-
eléctricos, película P3HT:PCBM y
resistencia en serie.                            77
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